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SIMS Depth Profiling을 이용한 동선(Copper Wires)의 표면 산화 및 흡착에 대한 연구

박종진, 홍태은, 이동계, 조영진, 서영일, 문병선, 박종찬, 박혁규, 이정식

한국법과학회 한국법과학회지 제9권 제1호 2008.06 pp.6-10

A TOF‐SIMS Study of Artificially Photoaged Silk Fabrics KCI 등재

Boyoung Lee, Hyoseon Ryu, Sohyun Park

한국문화유산보존과학회(구 한국문화재보존과학회) 보존과학회지 제34권 제2호 2018.04 pp.129-135

아열대 과수 백향과, 파파야, 바나나의 경제성 및 경영모델

이두원, 김창영

북방농업연구소 북방농업연구 제46권 제2호 2023.12 pp.1-22

플랫폼 기반 OSMU(One Source Multi Use) 체계를 위한 스토리텔링 변환 방안 KCI 등재

이승하, 주희엽, 김서린

한국컴퓨터게임학회 한국컴퓨터게임학회논문지 제25권 제2호 2012.06 pp.25-32

SIMS를 이용한 SiO₂/PSG/SiO₂/Al-1%Si 및 SiO₂/TEOS/SiO₂/Al-1%Si 적층 박막내의 Na 게터링 분석

김진영

[Kisti 연계] 한국표면공학회 한국표면공학회지 Vol.51 No.2 2018 pp.110-115

SIMS를 이용한 SiO₂/PSG/SiO₂/Al-1%Si 적층 박막내의 K 게터링 분석

김진영

[Kisti 연계] 한국표면공학회 한국표면공학회지 Vol.50 No.3 2017 pp.219-224

Black Cr 태양 선택흡수막의 SIMS 연구

이길동

[Kisti 연계] 한국태양에너지학회 한국태양에너지학회 논문집 Vol.34 No.4 2014 pp.39-44

SIMS depth profile을 이용한 중성빔 특성 분석 및 flux 향상방안

김성우, 박병재, 민경석, 강세구, 염근영

[Kisti 연계] 한국표면공학회 한국표면공학회 학술대회논문집 2007 pp.61-62

I.T 기술을 활용한 SIMS(변전소 정보관리 시스템) 개발

구본우, 정시환, 최만식, 이규철, 문호, 임욱

[Kisti 연계] 대한전기학회 대한전기학회 학술대회논문집 2005 pp.36-38

SIMS를 위한 공간 데이터 마이닝 질의 언어

박선, 박상호, 안찬민, 이윤석, 이주홍

[Kisti 연계] 한국정보과학회 한국정보과학회 학술대회논문집 2004 pp.70-72

SIMS 분석조건이 Bismuth Titanate 박막의 깊이방향 조성 해석에 미치는 영향

김재남, 이상업, 권혁대, 신광수, 전웅, 박병옥, 조상희

[Kisti 연계] 한국분석과학회 분석과학 Vol.14 No.6 2001 pp.486-493

Zircaloy 산화막 특성에 관한 SIMS와 TEM 연구

정용환, 백종혁, 김선재, 김경호, 최병권, 정연호

[Kisti 연계] 한국원자력학회 한국원자력학회 학술대회논문집 1998 p.235

Ti-silicide 박막 형성시 규소 기판에 이온 주입된 붕소 거동에 대한 SIMS 분석

황유상, 백수현, 조현춘, 마재평, 최진석, 강성건

[Kisti 연계] 한국분석과학회 분석과학 Vol.5 No.2 1992 pp.199-202

XPS와 SIMS를 이용한 PSG/SiO<SUB>2/Al-1%Si 적층 박막내의 Na 게터링 분석

김진영

[Kisti 연계] 한국표면공학회 한국표면공학회지 Vol.49 No.5 2016 pp.467-471

학교정보관리시스템의 변화 : SIMS(CS)와 NEIS의 비교

김창용, 배재학

[Kisti 연계] 한국정보과학회 한국정보과학회 학술대회논문집 2003 pp.571-573

송변전지리정보시스템(TGIS)과 변전소정보관리시스템(SIMS)의 통합 운영 방안 연구

민병욱, 방항권, 최한열

[Kisti 연계] 대한전기학회 대한전기학회 학술대회논문집 2006 pp.508-509

Surface Chracterization of poly(p-phenylenevinylene) and its derivatives, MEH-PV and DMOS-PPV, using XPS, Static SIMS and ToF-SIMS

Kim, Seung-Hee, Kim, T.H., Lee, J.W.

[Kisti 연계] 한국진공학회 한국진공학회 학술대회논문집 1997 p.146

SIMS Depth Profiling Analysis of Cl in $TiCl_4$ Based TiN Film by Using $ClCs_2^+$ Cluster Ions

공수진, 박상원, 김종훈, 고중규, 박윤백, 김호정, 김창열

[Kisti 연계] 한국진공학회 한국진공학회 학술대회논문집 2012 p.161

SIMS glancing anlge을 적용한 tunnel oxide 내 Nitorgen 깊이 분해능 향상 연구

이종필, 최근영, 김경원, 김호정, 한오석

[Kisti 연계] 한국진공학회 한국진공학회 학술대회논문집 2011 p.41

SIMS을 이용한 Si/Ge MultiLayer 두께 측정 방법

이은경, 장종식, 김경중, 문대원

[Kisti 연계] 한국진공학회 한국진공학회 학술대회논문집 2009 p.348