earticle

논문검색

논문

SIMS Depth Profiling을 이용한 동선(Copper Wires)의 표면 산화 및 흡착에 대한 연구

원문정보

Study of thermal oxidization and adsorption in the copper wire using SIMS Depth Profiling

박종진, 홍태은, 이동계, 조영진, 서영일, 문병선, 박종찬, 박혁규, 이정식

한국법과학회 한국법과학회지 제9권 제1호 2008.06 pp.6-10
피인용수 : 0건 (자료제공 : 네이버학술정보)

목차

Abstract
 I. 서론
 II. 실험방법
 III. 결과
 IV. 결론
 V. 참고문헌

키워드

저자정보

  • 박종진 Jong-Jin Park. 국립과학수사연구소 남부분소
  • 홍태은 Eae-Eun Hong. 한국기초과학지원연구원
  • 이동계 Dong-Kye Lee. 국립과학수사연구소 남부분소
  • 조영진 Young-Jin Cho. 국립과학수사연구소 남부분소
  • 서영일 Young-Il Seo. 국립과학수사연구소 남부분소
  • 문병선 Byung-sun Moon. 국립과학수사연구소 남부분소
  • 박종찬 Jong-chan Park. 국립과학수사연구소 남부분소
  • 박혁규 Hyuk-Kyu Park. 경성대학교 물리학과
  • 이정식 Jeong-Sik Lee. 국립과학수사연구소 남부분소

참고문헌

자료제공 : 네이버학술정보

    함께 이용한 논문

      ※ 기관로그인 시 무료 이용이 가능합니다.
      ※ 학술발표대회집, 워크숍 자료집 중 4페이지 이내 논문은 '요약'만 제공되는 경우가 있으니, 구매 전에 간행물명, 페이지 수 확인 부탁 드립니다.

      • 4,000원

      0개의 논문이 장바구니에 담겼습니다.