간행물 정보
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- 제공처
- 한국과학기술정보연구원
- 발행기관
- 대한전자공학회
- 수록기간
- 2001 ~ 2018
- 주제분류
- 공학 > 전자/정보통신공학
Vol.16 No.2 (16건)
[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science Vol.16 No.2 2016 pp.147-152
협약을 통해 무료로 제공되는 자료로, 원문이용 방식은 연계기관의 정책을 따르고 있습니다.
[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science Vol.16 No.2 2016 pp.153-158
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[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science Vol.16 No.2 2016 pp.159-165
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[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science Vol.16 No.2 2016 pp.166-171
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[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science Vol.16 No.2 2016 pp.172-178
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Contact Resistance and Leakage Current of GaN Devices with Annealed Ti/Al/Mo/Au Ohmic Contacts
[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science Vol.16 No.2 2016 pp.179-184
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Impact of Trap Position on Random Telegraph Noise in a 70-Å Nanowire Field-Effect Transistor
[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science Vol.16 No.2 2016 pp.185-190
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3D TCAD Analysis of Hot-Carrier Degradation Mechanisms in 10 nm Node Input/Output Bulk FinFETs
[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science Vol.16 No.2 2016 pp.191-197
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Effects of Mg Suppressor Layer on the InZnSnO Thin-Film Transistors
[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science Vol.16 No.2 2016 pp.198-203
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Analysis on Self-Heating Effect in 7 nm Node Bulk FinFET Device
[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science Vol.16 No.2 2016 pp.204-209
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A Study on Contact Resistance Reduction in Ni Germanide/Ge using Sb Interlayer
[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science Vol.16 No.2 2016 pp.210-214
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Diode Embedded AlGaN/GaN Heterojuction Field-Effect Transistor
[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science Vol.16 No.2 2016 pp.215-220
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Normally-Off Operation of AlGaN/GaN Heterojunction Field-Effect Transistor with Clamping Diode
[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science Vol.16 No.2 2016 pp.221-225
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Efficient Pre-Bond Testing of TSV Defects Based on IEEE std. 1500 Wrapper Cells
[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science Vol.16 No.2 2016 pp.226-235
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Critical Review of Current Trends in ASIC Writing and Layout Analysis
[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science Vol.16 No.2 2016 pp.236-250
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An Energy-Efficient Matching Accelerator Using Matching Prediction for Mobile Object Recognition
[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science Vol.16 No.2 2016 pp.251-254
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