Adsorption of Water Molecules on stainless Steel surface Using Null Ellipsometry
한양대학교 이학기술연구소 이학기술연구지 제3집 2001.02 pp.31-35
4,000원
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Alignment of Zero-Order Retardation Plate for Spectroscopic Ellipsometry
한양대학교 이학기술연구소 이학기술연구지 제2집 2000.12 pp.65-69
4,000원
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Spectroscopic Elliposometry Study of the Composition of Cobalt-SiO Thin Film
한양대학교 이학기술연구소 이학기술연구지 제4집 2002.01 pp.27-30
4,000원
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Ellipsometry를 이용한 Low-k SiOCH 박막의 유전특성에 관한 연구
[Kisti 연계] 한국전기전자재료학회 전기전자재료 Vol.21 No.12 2008 pp.1083-1089
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Ellipsometry를 이용한 193 nm photoresist에서의 물의 흡수 연구
[Kisti 연계] 한국반도체및디스플레이장비학회 반도체디스플레이기술학회지 Vol.5 No.2 2006 pp.37-39
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Mueller Matrix Ellipsometry 제작 및 응용
[Kisti 연계] 한국반도체및디스플레이장비학회 반도체디스플레이기술학회지 Vol.3 No.1 2004 pp.31-34
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FT-IR 을 이용한 $SiO_2$ 초박막의 두께 측정 및 Ellipsometry 방법과의 비교연구
[Kisti 연계] 한국재료학회 한국재료학회 학술대회논문집 1994 p.134
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Ellipsometry를 이용한 저 유전 상수를 갖는 SiOCH박막의 광학특성 연구
[Kisti 연계] 한국전기전자재료학회 한국전기전자재료학회 학술대회논문집 2010 p.198
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Ellipsometry를 이용한 저 유전상수를 갖는 SiOCH박막의 광학특성 연구
[Kisti 연계] 한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 Vol.23 No.3 2010 pp.228-233
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Ellipsometry를 이용한 Low-k SiOCH 박막의 유전특성에 관한 연구
[Kisti 연계] 한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 Vol.21 No.12 2008 pp.1083-1089
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Ellipsometry를 이용한 193 nm photoresist에서의 물의 흡수 연구
[Kisti 연계] 한국반도체및디스플레이장비학회 한국반도체및디스플레이장비학회 학술대회논문집 2006 pp.172-176
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Ellipsometry에서의 Calibration 및 입사면 고정형 Ellipsometer
[Kisti 연계] 한국반도체및디스플레이장비학회 반도체디스플레이기술학회지 Vol.2 No.4 2003 pp.23-26
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Ellipsometry 에서의 calibration 및 입사면 고정형 ellipsometer
[Kisti 연계] 한국반도체및디스플레이장비학회 한국반도체및디스플레이장비학회 학술대회논문집 2003 pp.18-22
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Spectroscopic Ellipsometry 를 이용한 InP 의 온도(25 K - 700 K)에 따른 광특성 연구
[Kisti 연계] 한국진공학회 한국진공학회 학술대회논문집 2009 p.156
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Spectroscopic Ellipsometry를 이용한 Critical Dimension 구조 분석
[Kisti 연계] 한국진공학회 한국진공학회 학술대회논문집 2008 p.351
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[Kisti 연계] 한국전기전자재료학회 한국전기전자재료학회 학술대회논문집 2006 pp.190-191
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분광 ellipsometry 를 이용한 ZnS의 유전율 함수에 관한 연구
[Kisti 연계] 한국진공학회 한국진공학회 학술대회논문집 2002 p.108
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