S-parameter의 변화를 유도하는 임피던스 변화 감지를 통한 전자회로의 결함검출회로
[Kisti 연계] 한국전기전자학회 Journal of IKEEE Vol.25 No.4 2021 pp.689-696
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[Kisti 연계] 제어로봇시스템학회 제어로봇시스템학회 논문지 Vol.2 No.4 1996 pp.337-343
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[Kisti 연계] 한국철도학회 한국철도학회 학술대회논문집 2007 pp.1656-1664
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고집적화 반도체 소자의 CMP 공정에서 Micro-Defect 관한 연굴
[Kisti 연계] 대한전기학회 대한전기학회 학술대회논문집 1999 pp.1891-1894
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