경사하강법을 이용한 낸드 플래시 메모리기반 저장 장치의 고효율 수명 예측 및 예외처리 방법
중소기업융합학회 융합정보논문지(구 중소기업융합학회논문지) 제11권 제11호 2021.11 pp.44-50
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SBBF: NAND 플래시 메모리 기반 B+-트리를 위한 공간 효율적인 버퍼 관리 기법
한국차세대컴퓨팅학회 한국차세대컴퓨팅학회 논문지 Vol.7 No.4 2011.07 pp.4-19
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3차원 구조에서 EMI 스프레이 코팅막의 차폐효과 분석
한국인터넷방송통신학회 한국인터넷방송통신학회 논문지 제19권 제4호 2019.08 pp.35-39
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리눅스 환경에서Solid-State Disk 성능 최적화를 위한 디스크 입출력요구 변환 계층
한국차세대컴퓨팅학회 한국차세대컴퓨팅학회 논문지 Vol.5 No.2 2009.06 pp.49-57
Study on the NAND Flash Memory-Based Failure Recovery Improvement Using T*-Tree
보안공학연구지원센터(IJCA) International Journal of Control and Automation Vol.8 No.6 2015.06 pp.339-348
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HHB+tree Index for Functional Enhancement of NAND Flash Memory-Based Database
보안공학연구지원센터(IJSEIA) International Journal of Software Engineering and Its Applications Vol.9 No.9 2015.09 pp.289-294
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낸드 플래시 메모리 파일 시스템을 위한 효율적인 안정성 기법
한국정보기술융합학회 정보기술융합연구 제2권 제1호 2010.06 pp.21-29
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NAND 플래시 메모리 기반 파일 시스템의 설계 및 구현
한국정보기술융합학회 정보기술융합연구 제1권 제1호 2009.06 pp.15-30
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보안공학연구지원센터(IJCA) International Journal of Control and Automation Vol.7 No.6 2014.06 pp.169-176
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HLRU : Hybrid Buffer Replacement Scheme for Solid State Drives
보안공학연구지원센터(IJMUE) International Journal of Multimedia and Ubiquitous Engineering Vol.8 No4 2013.07 pp.265-272
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Page Mapping Scheme to Support Secure File Deletion for NAND-based Block Devices
보안공학연구지원센터(IJSIA) International Journal of Security and Its Applications Vol.7 No.3 2013.05 pp.387-394
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Block-level Replacement Scheme Considering Re-write Probability for Solid State Drives
보안공학연구지원센터(IJMUE) International Journal of Multimedia and Ubiquitous Engineering Vol.7 No2 2012.05 pp.329-334
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Second Chance Replacement Considering a Garbage Collection Cost of FAST Scheme
보안공학연구지원센터(IJMUE) International Journal of Multimedia and Ubiquitous Engineering Vol.7 No2 2012.05 pp.279-284
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Secure File Delete in NAND-based Storage
보안공학연구지원센터(IJSIA) International Journal of Security and Its Applications Vol.6 No.2 2012.04 pp.257-260
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NAND Flash Memory의 초기 Bad Block 정보 물리주소를 이용한 보안키 설계와 암호화 기법 제안
[Kisti 연계] 한국정보통신학회 한국정보통신학회논문지 Vol.20 No.12 2016 pp.2282-2288
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NAND Flash Memory Pattern Test를 위한 PMBIST
[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea Vol.51 No.1 2014 pp.79-89
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3D NAND Flash Memory에서 Tapering된 O/N/O 및 O/N/F 구조의 Threshold Voltage 변화 분석
[Kisti 연계] 한국전기전자학회 Journal of IKEEE Vol.28 No.1 2024 pp.110-115
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