[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science Vol.17 No.2 2017 pp.252-259
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[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science Vol.15 No.2 2015 pp.312-317
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65 nm CMOS 기술에서 소자 종류에 따른 신뢰성 특성 분석
[Kisti 연계] 한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 Vol.27 No.12 2014 pp.792-796
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PMOSFET의 채널 길이에 따른 NBTI 스트레스와 CHC 스트레스의 신뢰성 특성 비교 분석
[Kisti 연계] 한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 Vol.27 No.7 2014 pp.438-442
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RF 인덕터의 Underpass에 따른 품질 계수 및 항복전압 특성
[Kisti 연계] 한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 Vol.27 No.6 2014 pp.356-360
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[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science Vol.14 No.5 2014 pp.543-548
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[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science Vol.13 No.6 2013 pp.655-661
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[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea Vol.50 No.5 2013 pp.61-66
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RFIC 설계에 응용 가능한 90nm 공정 기반 인덕터의 Quality factor 및 Effective inductance 분석
[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea Vol.50 No.5 2013 pp.128-133
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Fluorine 주입에 따른 NMOSFET의 소자 특성 연구
[Kisti 연계] 한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 Vol.25 No.1 2012 pp.20-23
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CMOS 기술을 기반으로 제작된 정합 특성이 우수한 BJT 구조
[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 Vol.49 No.5 2012 pp.16-21
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Plasma Nitrided Oxide와 Thermally Nitrided Oxide를 적용한 NMOSFET의 Flicker Noise와 신뢰성에 대한 비교 분석
[Kisti 연계] 한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 Vol.24 No.12 2011 pp.944-948
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La이 혼입된 고유전체/메탈 게이트가 적용된 나노 스케일 NMOSFET에서의 PBTI 신뢰성의 특성 분석
[Kisti 연계] 한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 Vol.24 No.3 2011 pp.182-187
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[Kisti 연계] 한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 Vol.24 No.12 2011 pp.939-943
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3D Interaction Technique on Stereo Display System
[Kisti 연계] 한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 학술대회논문집 2007 pp.1235-1238
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