N형 Ge-on-Si 기판에 형성된 Pd Germanide의 열안정성 및 Schottky 장벽 분석
[Kisti 연계] 한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 Vol.24 No.4 2011 pp.271-275
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La이 혼입된 고유전체/메탈 게이트가 적용된 나노 스케일 NMOSFET에서의 PBTI 신뢰성의 특성 분석
[Kisti 연계] 한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 Vol.24 No.3 2011 pp.182-187
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[Kisti 연계] 한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 Vol.23 No.6 2010 pp.431-435
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Strained-Si PMOSFET에서 디지털 및 아날로그 성능의 캐리어 방향성에 대한 의존성
[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 Vol.47 No.8 2010 pp.23-28
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Submicron CMOSFET에서 기판 방향에 대한 소자 성능 의존성 분석
[Kisti 연계] 한국전기전자재료학회 한국전기전자재료학회 학술대회논문집 2009 p.7
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