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Characterization of a Solution-processed YHfZnO Gate Insulator for Thin-Film Transistors

Kim, Si-Joon, Kim, Dong-Lim, Kim, Doo-Na, Kim, Hyun-Jae

[Kisti 연계] 한국정보디스플레이학회 Journal of information display Vol.11 No.4 2010 pp.165-168

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Electrical Analysis of Bottom Gate TFT with Novel Process Architecture

Pak, Sang-Hoon, Jeong, Tae-Hoon, Kim, Si-Joon, Kim, Kyung-Ho, Kim, Hyun-Jae

[Kisti 연계] 한국정보디스플레이학회 Journal of information display Vol.9 No.2 2008 pp.5-8

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Dynamic Stress Analysis of a Bottom Gate TFT Having an Active Layer of Amorphous/Microcrystalline Si Double-Layers

Pak, Sang-Hoon, Jeong, Tae-Hoon, Kim, Si-Joon, Kim, Hyun-Jae

[Kisti 연계] 한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 학술대회논문집 2007 pp.1344-1347

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