Three-Dimensional Selective Oxidation Fin Channel MOSFET Based on Bulk Silicon Wafer
중소기업융합학회 융합정보논문지(구 중소기업융합학회논문지) 제11권 제11호 2021.11 pp.159-165
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Implementation of Arithmetic Logic Unit Using FINFET
보안공학연구지원센터(IJHIT) International Journal of Hybrid Information Technology Vol.9 No.9 2016.09 pp.335-342
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FinFET 및 GAAFET의 게이트 접촉면적에 의한 열저항 특성과 Fin-Layout 구조 최적화
[Kisti 연계] 한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 Vol.34 No.5 2021 pp.296-300
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[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea Vol.51 No.8 2014 pp.30-37
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Sentaurus의 Tecplot를 이용한 FinFET 구현
[Kisti 연계] 한국해양정보통신학회 한국해양정보통신학회 학술대회논문집 2007 pp.765-767
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[Kisti 연계] 한국해양정보통신학회 한국해양정보통신학회 학술대회논문집 2007 pp.514-516
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SiGe p-FinFET의 C-V 특성을 이용한 평균 계면 결함 밀도 추출과 Terman의 방법을 이용한 검증
[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea Vol.52 No.4 2015 pp.56-61
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Tri-gate FinFET의 fin 및 소스/드레인 구조 변화에 따른 소자 성능 분석
[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea Vol.51 No.7 2014 pp.71-81
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나노구조 FinFET에서 게이트산화막의 특성에 따른 터널링의 변화 분석
[Kisti 연계] 한국해양정보통신학회 한국해양정보통신학회 학술대회논문집 2008 pp.751-754
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LNA 설계를 통한 FinFET의 RC 기생 압축 모델 정확도 검증
[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea Vol.53 No.11 2016 pp.25-31
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20nm이하 이중게이트 FinFET의 크기변화에 따른 서브문턱스윙분석
[Kisti 연계] 한국해양정보통신학회 한국해양정보통신학회 학술대회논문집 2006 pp.865-868
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나노구조 이중게이트 FinFET의 크기변화에 따른 문턱전압이동 분석
[Kisti 연계] 한국해양정보통신학회 한국해양정보통신학회 학술대회논문집 2006 pp.869-872
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진공 게이트 스페이서를 지니는 Bulk FinFET의 단채널효과 억제를 위한 소자구조 최적화 연구
[Kisti 연계] 한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 Vol.35 No.6 2022 pp.576-580
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정확한 기생 성분을 고려한 ITRS roadmap 기반 FinFET 공정 노드별 회로 성능 예측
[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea Vol.52 No.10 2015 pp.33-46
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실제적 구조를 가진 벌크 및 SOI FinFET에서 발생하는 동적 self-heating 효과
[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea Vol.52 No.10 2015 pp.64-69
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2차원 양자 역학적 모델링 및 시뮬레이션 : FinFET
[Kisti 연계] 대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회논문집 2003 pp.775-778
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FinFET SRAM Cells with Asymmetrical Bitline Access Transistors for Enhanced Read Stability
[Kisti 연계] 한국전기전자재료학회 Transactions on electrical and electronic materials Vol.16 No.6 2015 pp.293-302
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