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電子工學會誌

간행물 정보

Vol.22 No.12 (10건)

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협약을 통해 무료로 제공되는 자료로, 원문이용 방식은 연계기관의 정책을 따르고 있습니다.

특집 편집기

한탁돈

[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會誌 Vol.22 No.12 1995 p.45

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협약을 통해 무료로 제공되는 자료로, 원문이용 방식은 연계기관의 정책을 따르고 있습니다.

대용량 메모리 제품 TEST 기술동향

김태신, 배기종

[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會誌 Vol.22 No.12 1995 pp.46-56

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협약을 통해 무료로 제공되는 자료로, 원문이용 방식은 연계기관의 정책을 따르고 있습니다.

차세대 반도체 메모리의 테스트 기술

이화준, 소병세

[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會誌 Vol.22 No.12 1995 pp.57-67

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협약을 통해 무료로 제공되는 자료로, 원문이용 방식은 연계기관의 정책을 따르고 있습니다.

메모리 테스트를 위한 BIST 기술

전병실, 배성환

[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會誌 Vol.22 No.12 1995 pp.68-80

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협약을 통해 무료로 제공되는 자료로, 원문이용 방식은 연계기관의 정책을 따르고 있습니다.

내장된 자체검사 기법(BIST)의 기술동향

강성호

[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會誌 Vol.22 No.12 1995 pp.81-92

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협약을 통해 무료로 제공되는 자료로, 원문이용 방식은 연계기관의 정책을 따르고 있습니다.

디지탈 IC 및 보드의 시험을 위한 스캔 설계기술

민형복

[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會誌 Vol.22 No.12 1995 pp.93-104

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협약을 통해 무료로 제공되는 자료로, 원문이용 방식은 연계기관의 정책을 따르고 있습니다.

VLSI 회로의 테스트 패턴 생성 기술

박은세

[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會誌 Vol.22 No.12 1995 pp.105-115

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협약을 통해 무료로 제공되는 자료로, 원문이용 방식은 연계기관의 정책을 따르고 있습니다.

고장시뮬레이션의 가속화를 위한 기술동향

송오영

[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會誌 Vol.22 No.12 1995 pp.116-123

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협약을 통해 무료로 제공되는 자료로, 원문이용 방식은 연계기관의 정책을 따르고 있습니다.

COMS 회로에 있어서의 함선 및 절선결함 테스팅

홍성제

[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會誌 Vol.22 No.12 1995 pp.124-130

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