Development of Machine Vision Monitoring System for Semiconductor Package Sorter
보안공학연구지원센터(IJCA) International Journal of Control and Automation Vol.9 No.4 2016.04 pp.63-72
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동축 구조의 인쇄회로기판을 사용한 테스트 소켓의 S-파라미터 추출
[NRF 연계] 한국소프트웨어감정평가학회 한국소프트웨어감정평가학회 논문지 Vol.18 No.2 2022.12 pp.181-187
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