Transient analysis of point defect dynamics in czochralski-grown silicon crystals
[Kisti 연계] 한국결정성장학회 한국결정성장학회지 Vol.11 No.6 2001 pp.259-263
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[Kisti 연계] 한국결정성장학회 한국결정성장학회지 Vol.10 No.5 2000 pp.356-361
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에칭법을 이용한 실리콘 웨이퍼 표면 근처에서의 금속 분순물의 정량
[Kisti 연계] 대한화학회 대한화학회지 Vol.44 No.3 2000 pp.200-206
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Oxidation-Induced Stacking Fault and Fast Pulling in Czochralski-Grown Silicon Crystals
[Kisti 연계] 한국결정성장학회 한국결정성장학회 학술대회논문집 1999 pp.1-25
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