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위상 검출 방식 레이저 스캐너의 APD bias 전압 특성을 이용한 검출신호세기 제어 방법
장준환, 윤희선, 황성의, 박기환
[Kisti 연계] 한국정밀공학회 한국정밀공학회지 Vol.29 No.10 2012 pp.1096-1100
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