A Comparative Study on SiGe HBTs and Si BJTs in Nanoscale
보안공학연구지원센터(IJAST) International Journal of Advanced Science and Technology Vol.71 2014.10 pp.59-66
※ 원문제공기관과의 협약기간이 종료되어 열람이 제한될 수 있습니다.
Influence of High-k Gate Dielectric on Nanoscale DG-MOSFET
보안공학연구지원센터(IJAST) International Journal of Advanced Science and Technology Vol.65 2014.04 pp.19-26
※ 원문제공기관과의 협약기간이 종료되어 열람이 제한될 수 있습니다.
0개의 논문이 장바구니에 담겼습니다.
- 구매 불가 논문
-