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피로손상을 받은 NbTi 초전도 선재의 RRR거동

신형섭, 배영준, 하동우, 오상수

한국초전도저온학회 (구 한국초전도저온공학회) 한국초전도·저온논문지 (구 한국초전도저온공학회논문지) 3권 1호 2001.05 pp.1-5

Fabrication and characterization of NbTi-Au-NbTi Josephson junctions KCI 등재 SCOPUS

Pyeong Kang Kim, Heechan Bang, Bongkeon Kim, Yong-Joo Doh

한국초전도저온학회 (구 한국초전도저온공학회) 한국초전도·저온논문지 (구 한국초전도저온공학회논문지) Vol.24 No.4 2022.12 pp.6-10

A design study of a 4.7 T 85 mm low temperature superconductor magnet for a nuclear magnetic resonance spectrometer KCI 등재 SCOPUS

Ryunjun Bae, Jung Tae Lee, Jeonghwan Park, Kibum Choi, Seungyong Hahn

한국초전도저온학회 (구 한국초전도저온공학회) 한국초전도·저온논문지 (구 한국초전도저온공학회논문지) Vol.24 No.3 2022.09 pp.24-29

KSTAR PF 초전도자석의 크기 및 재료에 따른 결합손실 특성 분석 KCI 등재

이현정, 추용, 이상일, 박영민, 박현택, 오영국

한국초전도저온학회 (구 한국초전도저온공학회) 한국초전도·저온논문지 (구 한국초전도저온공학회논문지) 11권 3호 2009.09 pp.1-5

NbTi 초전도 선의 접합 조건 변화에 따른 임계전류 특성 향상 연구

하동우, 심기덕, 장현만, 하홍수, 오상수, 권영길, 류강식

[Kisti 연계] 대한전기학회 대한전기학회 학술대회논문집 2000 pp.1521-1523

NbTi 관내 3연선 도체의 안정성

장현만, 오상수, 하동우, 하홍수, 배준한, 김상철, 류강식, 왕추량

[Kisti 연계] 대한전기학회 대한전기학회 학술대회논문집 1998 pp.82-84

RF Sputtering법에 의한 NbTi박막 제조연구

김봉서, 우병철, 하동우, 변우봉, 이희웅

[Kisti 연계] 대한전기학회 대한전기학회 학술대회논문집 1994 pp.212-214

MRI용 NbTi 초전도선재 제조 및 초전도 특성 평가

하동우, 오상수, 류강식, 한일용, 이종건

[Kisti 연계] 대한전기학회 대한전기학회 학술대회논문집 1997 pp.1494-1496

PMOSFET의 채널 길이에 따른 NBTI 스트레스와 CHC 스트레스의 신뢰성 특성 비교 분석

유재남, 권성규, 신종관, 오선호, 장성용, 송형섭, 이가원, 이희덕

[Kisti 연계] 한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 Vol.27 No.7 2014 pp.438-442

임게전류밀도 향상을 위한 Cu/NbTi다층박막과 초전도 선재에서의 계면반응

심재엽, 백홍구, 하동우, 오상수, 류강식

[Kisti 연계] 한국전기전자재료학회 전기전자재료 Vol.8 No.4 1995 pp.478-486

RF 마그네트론 스퍼터링법으로 제조된 차폐용 NbTi박막의 우선방향에 미치는 스퍼터링 압력의 영향

김봉서, 우병철, 변우봉, 이희웅

[Kisti 연계] 대한전기학회 대한전기학회 학술대회논문집 1995 pp.1098-1101

NBTI 스트레스로 인한 p채널 MOSFET 열화 분석

김동수, 김효중, 이준기, 최병덕

[Kisti 연계] 한국진공학회 한국진공학회 학술대회논문집 2012 p.352

NBTI 노화 효과를 고려한 헤더 기반의 파워게이팅 구조

김경기

[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 Vol.49 No.2 2012 pp.23-30

NBTI/PBTI analysis of the memory characteristics improved by hydrogen annealing in MANOS capacitors

Kim, H.D., An, H.M., Seo, Y.J., Zhang, Y., Kim, K.C., Nam, K.H., Chung, H.B., Kim, T.G.

[Kisti 연계] 한국진공학회 한국진공학회 학술대회논문집 2009 p.147

Impact Analysis of NBTI/PBTI on SRAM V<SUB>MIN and Design Techniques for Improved SRAM V<SUB>MIN

Kim, Tony Tae-Hyoung, Kong, Zhi Hui

[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science Vol.13 No.2 2013 pp.87-97

고속용 p-MOSFET에서 NBTI 스트레스에 의한 GIDL 전류의 특성 분석

이용재, 송재열, 이종형, 한대현

[Kisti 연계] 한국해양정보통신학회 한국해양정보통신학회논문지 Vol.13 No.2 2009 pp.348-354

새로운 BEOL 공정을 이용한 NBTI 수명시간 개선

호원준, 한인식, 이희덕

[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 Vol.43 No.3 2006 pp.9-14

An Accurate Gate-level Stress Estimation for NBTI

Han, Sangwoo, Lee, Junho, Kim, Byung-Su, Kim, Juho

[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science Vol.13 No.2 2013 pp.139-144

$10^{-14}$Ohm의 미소저항을 갖는 NbTi 초전도선재 접합방법 및 저항측정 기술

김우곤, 이호진, 홍계원

[Kisti 연계] 대한전기학회 전기학회지 Vol.43 No.9 1994 pp.17-23

게이트 산화막 어닐링을 이용한 서브 마이크론 PMOS 트랜지스터의 NBTI 향상

김영민

[Kisti 연계] 한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 Vol.16 No.3 2003 pp.181-185