NBTI 노화 효과를 고려한 헤더 기반의 파워게이팅 구조
[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 Vol.49 No.2 2012 pp.23-30
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나노 MOSFET 공정에서의 초저전압 NCL 회로 설계
[Kisti 연계] 한국산업정보학회 한국산업정보학회논문지 Vol.17 No.4 2012 pp.17-23
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The Impact of TDDB Failure on Nanoscale CMOS Digital Circuits
[Kisti 연계] 한국산업정보학회 한국산업정보학회논문지 Vol.17 No.3 2012 pp.27-34
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[Kisti 연계] 한국분말야금학회 한국분말야금학회지 Vol.18 No.1 2011 pp.73-77
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센서 노드 배터리 충전을 위한 Solar Cell의 완충시간에 대한 연구
[Kisti 연계] 한국산업정보학회 한국산업정보학회논문지 Vol.16 No.1 2011 pp.31-36
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Minimal Leakage Pattern Generator
[Kisti 연계] 한국산업정보학회 한국산업정보학회논문지 Vol.16 No.5 2011 pp.1-8
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[Kisti 연계] 한국정보처리학회 Journal of information processing systems Vol.7 No.1 2011 pp.93-102
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[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 Vol.44 No.12 2007 pp.31-36
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A 32nm and 0.9V CMOS Phase-Locked Loop with Leakage Current and Power Supply Noise Compensation
[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science Vol.7 No.1 2007 pp.11-19
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Phase-Locked Loop with Leakage and Power/Ground Noise Compensation in 32nm Technology
[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science Vol.7 No.4 2007 pp.241-246
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S-파라미터를 사용한 클락 그리드 네트워크의 분석과 모델링
[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 Vol.44 No.12 2007 pp.37-42
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[Kisti 연계] 대한전자공학회 전자공학회논문지 Vol.26 No.6 1989 pp.7-14
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