전화번호 0505-555-0740
e-mail: earticle@earticle.net
평일 09:00~18:00 / 점심 12:00~13:00 토.일요일 및 공휴일은 휴무입니다.
검색조건
좁혀보기 좁혀보기 초기화
결과 내 검색
Simulation and Analysis of Gate Engineered Triple Metal Double Gate (TM-DG) MOSFET for Diminished Short Channel Effects
Santosh Kumar Gupta, Achinta Baidya, S. Baishya
보안공학연구지원센터(IJAST) International Journal of Advanced Science and Technology Vol.38 2012.01 pp.15-24
※ 원문제공기관과의 협약기간이 종료되어 열람이 제한될 수 있습니다.
0개의 논문이 장바구니에 담겼습니다.
장바구니로 이동 계속해서 검색하기
년 - 년