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電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체

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Vol.38 No.4 (7건)

Rambus DRAM실장용 ${mu}!$BGA (Ball Grid Array) 및 ${mu}!$Spring 패키지와 전기적 특성

김진성, 유영갑

[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 Vol.38 No.4 2001 pp.243-250

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협약을 통해 무료로 제공되는 자료로, 원문이용 방식은 연계기관의 정책을 따르고 있습니다.

저전압 DRAM 회로 설계 검토 및 제안

김영희, 김광현, 박홍준, 위재경, 최진혁

[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 Vol.38 No.4 2001 pp.251-265

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지연 고장 테스팅에 대한 고장 검출율 메트릭

김명균, 강성호, 한창호, 민형복

[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 Vol.38 No.4 2001 pp.266-276

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설계영역 탐색을 이용한 최적의 비터비 복호기 자동생성기

김기보, 김종태

[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 Vol.38 No.4 2001 pp.277-284

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단열회로를 이용한 8-b${\times}$8-b 파이프라인 승산기와 개선된 전원클럭 발생기의 연구

문용

[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 Vol.38 No.4 2001 pp.285-291

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CMOS VLSI의 효율적인 IDDQ 테스트 생성을 위한 패턴 생성기의 구현

배성환, 김관웅, 전병실

[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 Vol.38 No.4 2001 pp.292-301

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P/N-CTR 코드를 사용한 SSN과 누화 잡음 감소 I/O 인터페이스 방식

김준배, 권오경

[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 Vol.38 No.4 2001 pp.302-312

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