간행물 정보
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- 제공처
- 한국과학기술정보연구원
- 발행기관
- 대한전자공학회
- 수록기간
- 1986 ~ 1990
- 주제분류
- 공학 > 전자/정보통신공학
Vol.25 No.12 (2건)
마이크로파에서 얇은 유전체의 유전상수 및 유전손실의 측정방법에 대한 ㅇ녀구
[Kisti 연계] 대한전자공학회 전자공학회논문지 Vol.25 No.12 1988 pp.1582-1585
협약을 통해 무료로 제공되는 자료로, 원문이용 방식은 연계기관의 정책을 따르고 있습니다.
Rapid와 conventional Alloying 공정에 의한 GaAs Ohmic Contact의 특성 비교연구와 TLM의 새로운 해석 방법의 제안
[Kisti 연계] 대한전자공학회 전자공학회논문지 Vol.25 No.12 1988 pp.1663-1668
협약을 통해 무료로 제공되는 자료로, 원문이용 방식은 연계기관의 정책을 따르고 있습니다.