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YIQ기법과 위치 정보를 이용한 과일의 결점 검출 및 등급 분류

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이병선, 구상훈, 이은주

한국정보기술응용학회 한국정보기술응용학회 학술대회 2003년도 춘계학술대회 2003.06 pp.83-83
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저자정보

  • 이병선 한밭대학교 컴퓨터공학과
  • 구상훈 한밭대학교 컴퓨터공학과
  • 이은주 한밭대학교 컴퓨터공학과

참고문헌

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