earticle

IMU 원신호 기반의 기계학습을 통한 충격전 낙상방향 분류

이현빈, 이창준, 이정근

[Kisti 연계] 한국센서학회 Journal of sensor science and technology Vol.31 No.2 2022 pp.96-101

공과대학 학생들의 시각적 대시보드를 활용한 온라인 토론활동 경험

진성희, 유미나, 김태현, 김성은, 이현빈, 최학남

[Kisti 연계] 한국공학교육학회 공학교육연구 Vol.24 No.1 2021 pp.24-33

독도 물골의 수질 특성 및 질소화합물과 미생물간의 잠재적 관계

우상윤, 이현빈, 정동혁, 안제박, 윤진석, 박재홍, 박종수

[Kisti 연계] 한국해양학회 The Sea, Journal of the Korean Society of Oceanography Vol.26 No.2 2021 pp.124-134

국내 야생에서 처음 발견된 외래종, 서부비단거북(Chrysemys picta bellii)의 관찰 사례 보고

박일국, 이경원, 정지현, 이현빈, 구교성

[Kisti 연계] 한국환경생물학회 Korean journal of environmental biology Vol.38 No.1 2020 pp.16-20

DLP 3D 프린팅으로 제작된 고순도 알루미나 세라믹 탈지 공정 연구

이현빈, 이혜지, 김경호, 류성수, 한윤수

[Kisti 연계] 한국분말야금학회 한국분말야금학회지 Vol.27 No.6 2020 pp.490-497

DLP 기반 3D 프린팅으로 제조된 Al₂O₃ 절삭공구의 기계적 물성 연구

이현빈, 이혜지, 김경호, 김경민, 류성수, 한윤수

[Kisti 연계] 한국분말야금학회 한국분말야금학회지 Vol.26 No.6 2019 pp.508-514

안전한 PUF 응답 전송을 위한 노이즈 삽입 및 복구 알고리즘 하드웨어 설계

강태근, 이현빈

[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea Vol.54 No.10 2017 pp.49-59

경계 스캔 기반 온-라인 회로 성능 모니터링 기법

박정석, 강태근, 이현빈

[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea Vol.53 No.1 2016 pp.51-58

모바일 로봇 자세 안정화를 위한 칼만 필터 기반 센서 퓨전

장태호, 김영식, 경민영, 이현빈, 윤동환

[Kisti 연계] 대한기계학회 대한기계학회논문집A Vol.40 No.8 2016 pp.703-710

FPGA 경계 스캔 체인을 재활용한 FPGA 자가 테스트 회로 설계

윤현식, 강태근, 이현빈

[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea Vol.52 No.6 2015 pp.70-76

IEEE 1500 래퍼를 이용한 효과적인 AMBA 기반 시스템-온-칩 코아 테스트

이현빈, 한주희, 김병진, 박성주

[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 Vol.45 No.2 2008 pp.61-68

저비용 SoC 테스트를 위한 IEEE 1500 래퍼 및 테스트 제어

이현빈, 김진규, 정태진, 박성주

[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 Vol.44 No.11 2007 pp.65-73

Crosstalk 고장 점검을 위한 효과적인 연결선 테스트 패턴 생성 알고리즘에 관한 연구

한주희, 송재훈, 이현빈, 김진규, 박성주

[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 Vol.44 No.12 2007 pp.71-76

칩 및 코아간 연결선의 지연 고장 테스트

이현빈, 김두영, 한주희, 박성주

[Kisti 연계] 한국정보과학회 정보과학회논문지:시스템 및 이론 Vol.34 No.2 2007 pp.84-92

천이 지연 고장 테스트를 위한 개선된 IEEE 1500 래퍼 셀 및 인터페이스 회로 설계

김기태, 이현빈, 김진규, 박성주

[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 Vol.44 No.11 2007 pp.109-118

다중 시스템 클럭으로 동작하는 보드 및 SoC의 연결선 지연 고장 테스트

이현빈, 김영훈, 박성주, 박창원

[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 Vol.43 No.1 2006 pp.37-44

Design of Pipelined Parallel CRC Circuits

이현빈, 김기태, 권영민, 박성주

[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SC, 시스템 및 제어 Vol.43 No.6 2006 pp.40-47

AMBA 기반 SoC 테스트를 위한 접근 메커니즘 설계

민필재, 송재훈, 이현빈, 박성주

[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 Vol.43 No.10 2006 pp.74-79

다중 시스템 클럭과 이종 코아를 가진 시스템 온 칩을 위한 연결선 지연 고장 테스트 제어기

장연실, 이현빈, 신현철, 박성주

[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 Vol.42 No.5 2005 pp.39-46

Efficient Interconnect Test Patterns and BIST Implementation for Crosstalk and Static Faults

민병우, 이현빈, 송재훈, 박성주

[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 Vol.42 No.7 2005 pp.37-44