Detection of lattice temperature using gate induced drain leakage in silicon chip
[NRF 연계] 한국과학기술원 반도체설계교육센터 IDEC Journal of Integrated Circuits and Systems Vol.5 No.1 2019.01 pp.13-18
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[NRF 연계] 한국과학기술원 반도체설계교육센터 IDEC Journal of Integrated Circuits and Systems Vol.3 No.2 2017.04 pp.13-18
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