4H-SiC 기판 위에 RF Sputter로 증착된 NiO 박막의 후열처리 효과
[Kisti 연계] 한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 Vol.36 No.2 2023 pp.170-174
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고유전율 필드 플레이트를 적용한 β-Ga2O3 쇼트키 장벽 다이오드
[Kisti 연계] 한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 Vol.36 No.3 2023 pp.298-302
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4H-SiC PiN과 SBD 다이오드 Deep Level Trap 비교 분석
[Kisti 연계] 한국반도체및디스플레이장비학회 반도체디스플레이기술학회지 Vol.21 No.2 2022 pp.123-126
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깊은 준위 결함에 의한 SiC SBD 전기적 특성에 대한 영향 분석
[Kisti 연계] 한국전기전자학회 Journal of IKEEE Vol.26 No.1 2022 pp.50-55
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4H-SiC 기반으로 제작된 MPS Diode의 Schottky 영역 비율에 따른 전기적 특성 분석
[Kisti 연계] 한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 Vol.35 No.3 2022 pp.241-245
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β-Ga2O3/4H-SiC MESFETs에서의 Self-Heating
[Kisti 연계] 한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 Vol.35 No.1 2022 pp.86-92
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어닐링이 RF 스퍼터링으로 제작된 Ga2O3/Al2O3/SiC 소자에 미치는 영향 연구
[Kisti 연계] 한국반도체및디스플레이장비학회 반도체디스플레이기술학회지 Vol.21 No.2 2022 pp.85-89
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전위 장벽에 따른 4H-SiC MPS 소자의 전기적 특성과 깊은 준위 결함
[Kisti 연계] 한국전기전자학회 Journal of IKEEE Vol.26 No.2 2022 pp.306-312
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4H-SiC SBD와 JBS 소자의 Deep Level Defect 비교 분석
[Kisti 연계] 한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 Vol.34 No.3 2021 pp.214-219
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실리콘에 Local Anodic Oxidation으로 만든 산화물의 영향
[Kisti 연계] 한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 Vol.34 No.4 2021 pp.242-245
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