earticle

Selective detection of AC transport current distributions in GdBCO coated conductors using low temperature scanning Hall probe microscopy KCI 등재 SCOPUS

Chan Kim, Mu Young Kim, Hee Yeon Park, Hyeong-Ceoul Ri

한국초전도저온학회 (구 한국초전도저온공학회) 한국초전도·저온논문지 (구 한국초전도저온공학회논문지) Vol.19 No.1 2017.03 pp.26-29

광디스크의 노화에 관한 주사 탐침 현미경 연구

윤만영, 신현창

한국인쇄학회 한국인쇄학회지 제29권 제3호 2011.12 pp.97-104

SPM (Scanning Probe Microscopy)을 이용한 $SiO_2$ layer에서의 실리콘 나노 크리스탈의 전기적 특성 분석

김정민, 허현정, 손정민, 이은혜, 강윤호, 강치중, 김용상

[Kisti 연계] 대한전기학회 대한전기학회 학술대회논문집 2005 pp.1900-1902

SPM(Scanning Probe Microscopy)을 이용한 국소영역에서 실리콘 나노크리스탈의 전기적 특성 분석

최민기, 김정민, 강치중, 강윤호, 김용상

[Kisti 연계] 대한전기학회 대한전기학회 학술대회논문집 2004 pp.95-97

Digital PID Control을 적용한 Scanning Probe Microscopy의 Nano-grating 측정

박경덕, 지원수, 김대찬, 장동훈, 오범환, 박세근, 이일항, 이승걸

[Kisti 연계] 한국광학회 한국광학회 학술대회논문집 2008 pp.185-186

Scanning Probe Microscopy Study on Multiferroic $LuFe_2O_4$

Yang, I.K., Kim, S.B., Cheong, S.W., Jeong, Y.H.

[Kisti 연계] 한국자기학회 한국자기학회 학술대회논문집 2011 pp.153-154

Scanning Probe Microscopy for Biological Samples

Kim, Jong-Min, Chang, Sang-Mok, Muramatsu, Hiroshi

[Kisti 연계] 한국생명과학회 한국생명과학회 학술대회논문집 2005 pp.41-46

Scanning Probe Microscopy를 이용한 국소영역에서의 실리콘 나노크리스탈의 전기적 특성 분석

김정민, 허현정, 강치중, 김용상

[Kisti 연계] 대한전기학회 전기학회논문지. The transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers. C/ C, 전기물성·응용부문 Vol.54 No.10 2005 pp.438-442

Scanning Probe Microscopy를 이용한 고해 효과 연구

김철환, 안경구

[Kisti 연계] 한국펄프종이공학회 펄프·종이기술 Vol.30 No.4 1998 pp.49-58

Scanning Probe Microscopy를 이용한 물성연구

국양

[Kisti 연계] 한국현미경학회 한국현미경학회 학술대회논문집 1993 p.21

Scanning Probe Microscopy of Polymer Materials

Ihn, K.J., Zasadzinski, J.A.N.

[Kisti 연계] 한국고분자학회 고분자 과학과 기술 Vol.3 No.2 1992 pp.116-130

SPM(Scanning Probe Microscopy)

박상일

[Kisti 연계] 재료연구소 기계와재료 Vol.14 No.1 2002 pp.60-72

Microscopic Surface Dynamics Studied by Scanning Probe Microscopy

권기영

[Kisti 연계] 한국진공학회 한국진공학회 학술대회논문집 2011 p.111

What can we do With scanning probe microscopy?

국양

[Kisti 연계] 한국진공학회 한국진공학회 학술대회논문집 2007 p.33

Surface Studies Using the Variable Temperature Scanning Probe Microscopy (SPM)

Iwatsuki, Masashi

[Kisti 연계] 한국현미경학회 한국현미경학회 학술대회논문집 1997 p.26

Study of Nano-Structure by Using Scanning Probe Microscopy

K, Young-u

[Kisti 연계] 한국재료학회 한국재료학회 학술대회논문집 1992 p.22

Ferroelectricity of Bi-doped ZnO Films Probed by Scanning Probe Microscopy

Ben, Chu Van, Lee, Ju-Won, Kim, Jung-Hoon, Yang, Woo-Chul

[Kisti 연계] 한국진공학회 한국진공학회 학술대회논문집 2012 p.323

(K,Na)NbO₃-based Lead-free Piezoelectric Materials: An Encounter with Scanning Probe Microscopy

Zhang, Mao-Hua, Thong, Hao Cheng, Lu, Yi Xue, Sun, Wei, Li, Jing-Feng, Wang, Ke

[Kisti 연계] 한국세라믹학회 한국세라믹학회지 Vol.54 No.4 2017 pp.261-271

Vibration reduction control of 2-D nano scanner with displacement amplifier mechanism driven by PZT for scanning probe microscopy (SPM)

정종규, 염우섭, 박기환

[Kisti 연계] 한국정밀공학회 한국정밀공학회 학술대회논문집 2009 pp.529-530

Design of 2-D nano scanner with displacement amplifier mechanism which is driven by PZT for application to scanning probe microscopy (SPM)

정종규, 염우섭, 박기환

[Kisti 연계] 한국정밀공학회 한국정밀공학회 학술대회논문집 2008 pp.835-836