Drain-current Modeling of Sub-70-nm PMOSFETs Dependent on Hot-carrier Stress Bias Conditions
[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science Vol.17 No.1 2017 pp.94-100
협약을 통해 무료로 제공되는 자료로, 원문이용 방식은 연계기관의 정책을 따르고 있습니다.
Influence of Electron and Hole Distribution on 2T SONOS Embedded NVM
[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science Vol.16 No.5 2016 pp.624-629
협약을 통해 무료로 제공되는 자료로, 원문이용 방식은 연계기관의 정책을 따르고 있습니다.
On-State Resistance Instability of Programmed Antifuse Cells during Read Operation
[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science Vol.14 No.5 2014 pp.503-507
협약을 통해 무료로 제공되는 자료로, 원문이용 방식은 연계기관의 정책을 따르고 있습니다.
0개의 논문이 장바구니에 담겼습니다.
- 구매 불가 논문
-