Dynamic Power Supply Current Testing for Open Defects in CMOS SRAMs
[Kisti 연계] 한국전자통신연구원 ETRI journal Vol.23 No.2 2001 pp.77-84
협약을 통해 무료로 제공되는 자료로, 원문이용 방식은 연계기관의 정책을 따르고 있습니다.
동적 전원 공급 전류를 이용한 효율적인 SRAM 테스트 기법
[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 Vol.37 No.12 2000 pp.50-59
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