A Novel BIRA Method with High Repair Efficiency and Small Hardware Overhead
[Kisti 연계] 한국전자통신연구원 ETRI journal Vol.31 No.3 2009 pp.339-341
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테스트 시간과 테스트 전력 감소를 위한 선택적 세그먼트 바이패스 스캔 구조
[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 Vol.46 No.5 2009 pp.1-8
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[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 Vol.45 No.9 2008 pp.57-64
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Signal Integrity 연결선 테스트용 다중천이 패턴 생성방안
[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 Vol.45 No.1 2008 pp.14-19
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ACO를 이용한 저전력 ECC H-매트릭스 최적화 방안
[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 Vol.45 No.1 2008 pp.43-49
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명령어 분석기를 이용한 고속 메모리 테스트를 위한 병렬 ALPG
[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 Vol.45 No.9 2008 pp.33-40
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An Effective Test and Diagnosis Algorithm for Dual-Port Memories
[Kisti 연계] 한국전자통신연구원 ETRI journal Vol.30 No.4 2008 pp.555-564
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이중 포트 메모리의 실제적인 고장을 고려한 효율적인 테스트 알고리즘
[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 Vol.44 No.2 2007 pp.72-85
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