A Scaling Trend of Variation-Tolerant SRAM Circuit Design in Deeper Nanometer Era
[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science Vol.9 No.1 2009 pp.37-50
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A Low Vth SRAM Reducing Mismatch of Cell-Stability with an Elevated Cell Biasing Scheme
[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science Vol.10 No.2 2010 pp.118-129
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[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science Vol.14 No.4 2014 pp.365-375
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