The Impact of Delay Optimization on Delay fault Testing Quality
[Kisti 연계] 한국정보과학회 Journal of electrical engineering and information science Vol.2 No.3 1997 pp.14-21
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A New Scan Chain Fault Simulation for Scan Chain Diagnosis
[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science Vol.7 No.4 2007 pp.221-228
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[Kisti 연계] 대한전기학회 전기학회논문지. The transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers. D / D, 시스템 및 제어부문 Vol.50 No.1 2001 pp.45-50
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