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Testability of Current Testing for Open Faults Undetected by Functional Testing in TTL Combinational Circuits

Tsukimoto, Isao, Hashizume, Masaki, Mushiaki, Yukiko, Yotsuyanagi, Hiroyuki, Tamesada, Takeomi

[Kisti 연계] 대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회논문집 2002 pp.1972-1975

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협약을 통해 무료로 제공되는 자료로, 원문이용 방식은 연계기관의 정책을 따르고 있습니다.

Practical Fault Coverage of Supply Current Testing for Open Fault in TTL Combinational Circuits

Mushiaki, Yukiko, Hashzume, Masaki, Yotsuyanagi, Hiroyuki, Tamesada, Takeomi

[Kisti 연계] 대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회논문집 2000 pp.383-386

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