[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science Vol.13 No.4 2013 pp.395-401
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Optical In-Situ Plasma Process Monitoring Technique for Detection of Abnormal Plasma Discharge
[Kisti 연계] 한국전기전자재료학회 Transactions on electrical and electronic materials Vol.14 No.2 2013 pp.71-77
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PECVD Chamber Cleaning End Point Detection (EPD) Using Optical Emission Spectroscopy Data
[Kisti 연계] 한국전기전자재료학회 Transactions on electrical and electronic materials Vol.14 No.5 2013 pp.254-257
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Statistical Modeling of 3-D Parallel-Plate Embedded Capacitors Using Monte Carlo Simulation
[Kisti 연계] 한국전자통신연구원 ETRI journal Vol.23 No.1 2001 pp.23-32
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Extraction of Passive Device Model Parameters Using Genetic Algorithms
[Kisti 연계] 한국전자통신연구원 ETRI journal Vol.22 No.1 2000 pp.38-46
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