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Studies of the $TiO_2-Si$ Interface Bombarded by $Ar^+$ Ion Beam
Zhang, J., Huang, N.K., Lu, T.C., Zeng, L., Din, T., Chen, Y.K.
[Kisti 연계] 한국진공학회 한국진공학회지 Vol.12 No.1 2003 pp.63-66
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