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Determination of Indium composition of InGaN thin films and multiple quantum wells using anomalous x-ray scattering
Lee, H.H., Yi, M.S., Jang, H.W., Moon, Y.T., Park, S.J., Noh, D.Y., Tang, M., Liang, K.S.
[Kisti 연계] 한국진공학회 한국진공학회 학술대회논문집 2002 p.65
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