Fuzzy system reliability using intuitionistic fuzzy Weibull lifetime distribution
[Kisti 연계] 한국신뢰성학회 International journal of reliability and applications Vol.16 No.1 2015 pp.15-26
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Non-Overlapped Single/Double Gate SOI/GOI MOSFET for Enhanced Short Channel Immunity
[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science Vol.9 No.3 2009 pp.136-147
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[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science Vol.8 No.2 2008 pp.170-177
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