[Kisti 연계] 한국전기전자재료학회 Transactions on electrical and electronic materials Vol.13 No.5 2012 pp.241-244
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Investigation of Bias Stress Stability of Solution Processed Oxide Thin Film Transistors
[Kisti 연계] 한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 학술대회논문집 2009 pp.1582-1585
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Influence of Compositions on Sol-Gel Derived Amorphous In-Ga-Zn Oxide Semiconductor Transistors
[Kisti 연계] 한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 학술대회논문집 2009 pp.1586-1589
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Effects of Heterostructure Electrodes on the Reliability of Ferroelectric PZT Thin Films
[Kisti 연계] 한국세라믹학회 한국세라믹학회지 Vol.39 No.4 2002 pp.341-345
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[Kisti 연계] 한국전기전자재료학회 한국전기전자재료학회 학술대회논문집 2000 pp.307-310
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