Non-Quasi-Static RF Model for SOI FinFET and Its Verification
[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science Vol.10 No.2 2010 pp.160-164
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터널링 전계효과 트랜지스터의 고주파 파라미터 추출과 분석
[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 Vol.49 No.4 2012 pp.1-6
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[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science Vol.12 No.2 2012 pp.230-239
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[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 Vol.47 No.9 2010 pp.24-29
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[Kisti 연계] 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science Vol.10 No.4 2010 pp.265-275
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Extraction of Substrate Resistance Parameters for RF MOSFETs Based on Three-Port Measurement
[Kisti 연계] 대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회논문집 2005 pp.809-812
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Low Frequency Noise Characteristics of the 180nm MOSFETs
[Kisti 연계] 대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회논문집 2005 pp.861-864
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