Decision of Interface and Depth Scale Calibration of Multilayer Films by SIMS Depth Profiling
[Kisti 연계] 한국진공학회 한국진공학회 학술대회논문집 2012 p.274
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Quantification of $Cu(In_xGa_{1-x})Se_2$ Solar Cell by SIMS
[Kisti 연계] 한국진공학회 한국진공학회 학술대회논문집 2012 p.275
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Determination of Layer Thickness of A/B Type Multilayer Films in SIMS Depth Profiling Analysis
[Kisti 연계] 한국진공학회 한국진공학회 학술대회논문집 2012 p.231
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Conversion from SIMS depth profiling to compositional depth profiling of multi-layer films
[Kisti 연계] 한국진공학회 한국진공학회 학술대회논문집 2011 p.347
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