Deep Level Emission of ZnO and Amorphous SiOC Films by Photoluminescence
보안공학연구지원센터(IJMUE) International Journal of Multimedia and Ubiquitous Engineering Vol.8 No5 2013.09 pp.251-258
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Ionic Conductivity by A Complex Admittance Method
[Kisti 연계] 대한화학회 Bulletin of the Korean Chemical Society Vol.10 No.6 1989 pp.495-500
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