A High-speed Atomic Force Microscope for Precision Measurement of Microstructured Surfaces
[Kisti 연계] 한국정밀공학회 International journal of precision engineering and manufacturing Vol.9 No.3 2008 pp.27-32
협약을 통해 무료로 제공되는 자료로, 원문이용 방식은 연계기관의 정책을 따르고 있습니다.
An AFM-based Edge Profile Measuring Instrument for Diamond Cutting Tools
[Kisti 연계] 한국정밀공학회 International journal of precision engineering and manufacturing Vol.8 No.2 2007 pp.54-58
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