[Kisti 연계] 대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회논문집 1998 pp.401-404
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AlGaAs/GaAs HBT의 열화분석과 InGaP ledge 에미터에 의한 신뢰도 개선
[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics. D Vol.d35 No.7 1998 pp.88-93
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