전류 경로 그래프를 이용한 BiCMOS회로의 단락고장 검출
[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Jounnal of the Korea institute of telematics and electronics. A. A Vol.a33 No.2 1996 pp.184-195
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게이트 레벨 천이고장을 이용한 BiCMOS 회로의 Stuck-Open 고장 검출
[Kisti 연계] 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Jounnal of the Korea institute of telematics and electronics. A. A Vol.a32 No.12 1995 pp.198-208
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