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Materials & Properties Electronic Devices

Raman scattering spectroscopy as a characterization method ofcoated conductors

원문정보

Y. M. Um, W. Jo

한국초전도저온학회 (구 한국초전도저온공학회) 한국초전도·저온논문지 (구 한국초전도저온공학회논문지) Vol.9 No.4 2007.11 pp.24-27
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목차

1. INTRODUCTION
 2. EXPERIMENTS
 3. RESULTS AND DISCUSSION
 4. CONCLUSION
 ACKNOWLEDGMENT
 REFERENCES

저자정보

  • Y. M. Um Department of Physic, Ewha Womans University
  • W. Jo Corresponding author

참고문헌

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