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<생산기술>

삼차원 측정 시 프로빙 수 증가에 따른 측정요소별 오차발생에 관한 연구

원문정보

A Study on Occurrence of Error According to the Increase in Number of Probing when Measurement CMM

정현석 , 최지선

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초록

영어

The CMM is the most widely used measuring device in the field. The three-dimensional measurement method is divided into a method of scanning the shape of a product and a touch method. In this study, the accuracy of the dimension and shape of each measurement point touch method was analyzed based on the measured value with the touch method CMM using the inner and outer diameter measurement specimens. Through the experimental results, it was possible to obtain the closest value to the true value at more than 30 measurement points.

목차

ABSTRACT
1. 서론
2. 실험 장비 및 방법
2.1 실험장비 및 측정시편
2.2 실험조건
3. 결과 및 고찰
4. 결론
References

저자정보

  • 정현석 Hyun-Suk Jung. Department Semiconductor quality measurement of Korea Polytechnic colleges
  • 최지선 Ji Sun Choi . Department Semiconductor quality measurement of Korea Polytechnic colleges

참고문헌

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