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2중 유전체층 사이의 완전도체띠 격자구조에 의한 TE 산란 해석

원문정보

Analysis of TE Scattering by a Conductive Strip Grating Between a Double Dielectric Layer

윤의중

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초록

영어

In this paper, TE(transverse electric) scattering problems by a conductive strip grating between a double dielectric layer are analyzed by applying the FGMM(Fourier-Galerkin moment method) known as a numerical method of electromagnetic fileld. The boundary conditions are applied to obtain the unknown field coefficients, and the conductive boundary condition is applied to analysis of the conductive strip. The numerical results for the normalized reflected and transmitted power are analyzed by according as the width and spacing of conductive strip, the relative permittivity and thickness of the double dielectric layers, and incident angles. Generally, as the value of the dielectric constant increases, the reflected power increases and the transmitted power decreases, respectively. As the dielectric constant increases, the current density induced in the strip increases as it goes to both strip ends. The numerical results for the presented structure of this paper are shown in good agreement compared to those of the existing papers.

한국어

본 논문에서는 2중 유전체층 사이의 완전도체띠 격자구조에 의한 TE(transverse electric) 산란 문제는 전자파 수치해 석 방법으로 알려진 FGMM(Fourier-Galerkin moment method)를 이용하여 해석하였다. 경계조건들은 미지의 계수를 구하 기 위하여 이용하였고, 도체띠의 해석을 위해 완전도체 경계조건을 적용하였다. 도체띠의 폭과 주기, 2중 유전층 사이의 비유 전율과 두께 및 입사각에 대해 정규화된 반사전력과 투과전력을 계산하였다. 전반적으로 유전율의 값이 증가하면 반사전력 은 증가하며, 상대적으로 투과전력은 감소하였다. 유전율이 증가할수록 도체띠에 유도되는 전류밀도는 양쪽 끝으로 진행하면 서 증가하였다. 본 논문의 제안된 구조에 대한 수치결과들은 기존 논문의 수치해석 결과들과 비교하여 매우 잘 일치하였다.

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 문제 구조의 전자계 수식전개
Ⅲ. 수치계산 결과 및 검토
IV. 결론
References

저자정보

  • 윤의중 Uei-Joong Yoon. 종신회원, 가천대학교 의용생체공학과

참고문헌

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