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단양속양자 회로 측정프로브의 특성 분석을 위한 시뮬레이션

원문정보

Simulation for characterization of high speed probe for measurement of single flux quantum circuits

김상문, 김영환, 최종현, 조운조, 윤기현

한국초전도저온학회 (구 한국초전도저온공학회) 한국초전도·저온논문지 (구 한국초전도저온공학회논문지) 4권 2호 2003.01 pp.11-15
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저자정보

  • 김상문 Sang-Mun Kim. 연세대 대학원 세라믹공학과 석사과정
  • 김영환 Young-Hwan Kim. 한국과학기술연구원 선임연구원
  • 최종현 Jong-Hyun Choi. 고려대 대학원 재료공학과 석사과정
  • 조운조 Woon-Jo Cho. 한국과학기술연구원 선임연구원
  • 윤기현 Ki Hyun Yoon. 연세대 세라믹공학과 교수

참고문헌

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