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Investigation of I, Degradation Behavior in Bent Bi-2223 Tapes under Pressurized Liquid Nitrogen using a p-shaped Sample Holder

원문정보

Hyung-Seop Shin, John Ryan C. Dizon, Ho-Yeon Choi, Dong-Woo Ha, Sang-Soo Oh

한국초전도저온학회 (구 한국초전도저온공학회) 한국초전도·저온논문지 (구 한국초전도저온공학회논문지) Vol.7 No.4 2005.11 pp.4-9
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저자정보

  • Hyung-Seop Shin Andong National University
  • John Ryan C. Dizon Andong National University
  • Ho-Yeon Choi Andong National University
  • Dong-Woo Ha Korea Electrotechnology Research Institute
  • Sang-Soo Oh Korea Electrotechnology Research Institute

참고문헌

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