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<논문>

X-ray를 이용한 단락흔과 용융흔 구별에 관한 연구

원문정보

Study on discrimination between short-circuit marks and molten marks using X-ray

조영진, 이동규, 김선재, 박종택, 고재모, 사승훈, 남정우, 김성민, 이준호

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목차

1. 서론
 2. X-ray를 이용한 보이드 검사
  2.1 2D X-ray
  2.2 3D X-ray
 3. 사례 분석
  3.1 형광등 안정기
  3.2 전기기기 전원코드
 4. 결론
 참고문헌

저자정보

  • 조영진 Young-Jin Cho. 국립과학수사연구원
  • 이동규 Dong-Gyu Lee. 국립과학수사연구원
  • 김선재 Sun-Jae Kim. 국립과학수사연구원
  • 박종택 Jong-Teak Park. 국립과학수사연구원
  • 고재모 Jae-Mo Goh. 국립과학수사연구원
  • 사승훈 Seung-Hun Sa. 국립과학수사연구원
  • 남정우 Jung-Woo Nam. 국립과학수사연구원
  • 김성민 Sung-Min Kim. 강원지방경찰청
  • 이준호 Jun-Ho Lee. 강원지방경찰청

참고문헌

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