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2중 유전체층 사이의 완전도체띠 격자구조에 의한 TM 산란에 관한 연구

원문정보

A Study on TM Scattering by a Conductive Strip Grating Between a Double Dielectric Layer

윤의중

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초록

영어

In this paper, TM(transverse magnetic) scattering problems by a conductive strip grating between a double dielectric layer are analyzed by applying the PMM(point matching method) known as a numerical method of electromagnetic fileld. The boundary conditions are applied to obtain the unknown field coefficients, the scattered electromagnetic fields are expanded in a series of Floquet mode functions, and the conductive boundary condition is applied to analysis of the conductive strip. The most normalized reflected powers of the sharp variations in minimum values are scattered in direction of the other angles except incident angle. Generally, in the case of numerical analysis except for reflection and transmission power in free space, as the dielectric constants of the double dielectric layer increases, the reflected power increases and the transmitted power decreases relatively, respectively. The numerical results for the presented structure of this paper having a grounded double dielectric layer are shown in good agreement compared to those of the existing papers.

한국어

본 논문에서는 2중 유전체층 사이의 완전도체띠 격자구조에 의한 TM(transverse magnetic) 산란 문제는 전자파 수치해석 방법으로 알려진 PMM(point matching method)를 이용하여 해석하였다. 경계조건들은 미지의 계수를 구하기 위하여 이용하였고, 산란 전자계는 Floquet 모드 함수의 급수로 전개하였고, 도체띠의 해석을 위해 완전도체 경계조건을 적용하였다. 최소값을 가지는 변곡점들의 대부분의 반사전력은 입사각 이외의 다른 방향으로 산란된다. 전반적으로, 자유공간상에서의 반사 및 투과전력을 제외하고는 2중 유전체층의 비유전율이 증가할수록 반사전력은 증가하였고, 투과전력은 상대적으로 각각 감소하였다. 본 논문의 제안된 구조에 대한 수치결과들은 기존 논문의 수치해석 결과들과 비교하여 매우 잘 일치하였다.

목차

요약
 Abstract
 I. 서론
 II. 문제 구조의 전자계 수식전개
 III. 수치계산 결과 및 검토
 IV. 결론
 References

저자정보

  • 윤의중 Uei-Joong Yoon. 종신회원, 가천대학교 의용생체공학과

참고문헌

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