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SESSION 7 : ICT융합기술 IV, 정보통신기술 II, 좌장 : 김영일(ICT폴리텍대학)

제조 공정 외형 품질검사를 위한 딥러닝 기반 결함 탐지 기법 연구

원문정보

A Study on Deep Learning based Defect Detection Technique for Automatic Inspection in Manufacturing

이승우, 권영민

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목차

Abstract
 I. 서론
 II. 머신 비젼 관련 기술
  1. 특징점 매칭 기반
  2. 차영상 기반 불량 탐지
 III. 답러닝 기반 결함 검출 기법
  1. 학습 데이터 생성
  2. 신경망 학습 및 결함 판별 시스템
  3. 온라인 기반 재학습을 통한 최적화
 IV. 결론
 감사의 글
 참고문헌

저자정보

  • 이승우 Seung-Woo Lee. 전자부품연구원
  • 권영민 Young-Min Kwon. 전자부품연구원 RFID/USN 융합연구센터 선임연구원

참고문헌

자료제공 : 네이버학술정보

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